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基于高精度点云扫描的产品质量控制
发布者:辰维科技    发布时间:2015-08-12 10:42:57
    此类产品质量控制的方式,类似与一般的外形偏差检测,两者的区别在于产品外形的采样点密度不一样。
    该类的测量所采用的测量传感器多为 “摄影扫描测量系统”或“跟踪扫描测量系统”等。测量点数据量较大,为“点云式”,采样点的密度很高,点的数量往往为百万级甚至更高。利用后期分析软件,可以实现产品的外形偏差检测,缺陷处理过程监控等等。

图1   飞机外形偏差检测
   
图2   产品缺陷处理过程监测

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