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微波暗室近场测试测量系统
发布者:辰维科技    发布时间:2015-08-06 18:25:20
任务概述
       在微波暗室近场测试中,测量并调整待测天线的位置,保证待测天线平面坐标系与探头坐标系一致。
用户单位
       中国航天科工集团公司第三研究院35所(航天35所)
案例简介
       天线的电性能测试方法通常有室外空间法、半空间法、微波暗室等效远场法和近场法等。其中微波暗室近场法以占地小、操作简单、精度高等优点而被广泛采用。在近场测试中,调整待测天线平面坐标系与探头坐标系一致是保证测试精度的关键。
       但是,待测天线平面坐标系与探头坐标系一致性的调整操作比较困难。传统方法一般借助转台、水平仪、铅锤、游标卡尺等来调整待测天线横平竖直,精度较低。如要大幅提高精度量级,必须借助更为专业的设备。辰维科技公司的SMN工业测量系统,实现待测天线平面坐标系测量调整的数字化,大大提高了调整工作效率和测量精度。
测量设备
       经纬仪/全站仪测量系统;辰维科技SMN工业测量系统。
技术优势
       实现数字化测量,提高了测量效率;
       提高了天线角度调整精度,为后期天线电测试的顺利通过提供保障。

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